Alle Beiträge der 18. Oldenburger 3D-Tage 2019!

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Luhmann, Thomas; Schumacher, Christina (Hrsg.)
Photogrammetrie – Laserscanning – Optische 3D-Messtechnik

Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2019
2019
X, 346 Seiten, Broschur
66,- €
ISBN 978-3-87907-660-4

– Alle Tagungsbeiträge der 18. Oldenburger 3D-Tage vom 6. bis 7. Februar 2019

– Neueste Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Photogrammetrie, Laserscanning und optischer 3D-Messtechnik

– Themenschwerpunkte: Dynamische Prozesse, Oberflächenerfassung und Modellierung, Navigation von Objekten und Sensoren, Mobile Systeme und Plattformen, Neue Sensoren und Systeme, Messunsicherheit und Standardisierung, Kalibrierung und Orientierung

Das Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik der Jade Hochschule Wilhelmshaven/Oldenburg/Elsfleth veranstaltete vom 6. bis 7. Februar 2019 die 18. Oldenburger
3D-Tage. Diese Veranstaltung bildet eine wichtige Plattform für Experten der Bereiche Photogrammetrie, Geodäsie und industrieller Messtechnik. Die Veranstaltung gilt als eine der wichtigen in diesem Bereich. Die aktuellen Beiträge dokumentieren die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Wissenschaft und Praxis, die in dieser Form kaum zu finden sind.

Prof. Dr.-Ing. habil. Thomas Luhmann ist Professor für Photogrammetrie und Fernerkundung an der Jade Hochschule in Oldenburg.

Dipl.-Ing. (FH) Christina Schumacher ist Technologietransferbeauftragte der Jade Hochschule in Oldenburg.

Interessentenkreis:
Praktiker, Wissenschaftler und Studierende in den Bereichen Photogrammetrie, Geodäsie, Geoinformatik und Geowissenschaften sowie aus dem Maschinen- und Anlagenbau, Automobilbau, Bauingenieurwesen, Architektur, Denkmalpflege, Stadtplanung, Archäologie, Forstwissenschaft, Medizin u. v. m.

Über die VDE VERLAG GMBH

Der von dem Ingenieur Dr. Kurt Slawik 1933 in Berlin gegründete Herbert Wichmann Verlag gilt mit seinen maßgeschneiderten Fachmedien über Geoinformatik/GIS, Geodäsie/Vermessung, Photogrammetrie/Fernerkundung und Verkehrsplanung als eine der ersten Adressen in diesem Bereich. Das Angebot umfasst Fachbücher und E-Books, Loseblattwerke, die Fachzeitschriften avn, GIS.BUSINESS und GIS.SCIENCE sowie das Portal gis.POINT. Seit 2010 befindet sich die Verlagsmarke unter dem Dach des VDE VERLAGs.

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